Главная » 2014 » Июнь » 29 » Скачать Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники. бесплатно
1:33 AM
Скачать Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники. бесплатно
Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники
Автореферат
Автор: Коровкина, Наталья Михайловна
Название: Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники
Справка: Коровкина, Наталья Михайловна. Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т (ЛЭТИ) Санкт-Петербург, 2006 16 c. : 9 06-12/2444-6
9 06-12/2445-4