Вторник, 2020-10-27, 1:47 AM
Коллекция материаловГлавная

Регистрация

Вход
Приветствую Вас Гость | RSS
Меню сайта
Главная » 2014 » Июнь » 29 » Скачать Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники. бесплатно
1:33 AM
Скачать Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники. бесплатно
Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники

Автореферат

Автор: Коровкина, Наталья Михайловна

Название: Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники

Справка: Коровкина, Наталья Михайловна. Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т (ЛЭТИ) Санкт-Петербург, 2006 16 c. : 9 06-12/2444-6 9 06-12/2445-4

Объем: 16 стр.

Информация: Санкт-Петербург, 2006


Скачивание файла!Для скачивания файла вам нужно ввести
E-Mail: 1662
Пароль: 1662
Скачать файл.
Просмотров: 149 | Добавил: Диана33 | Рейтинг: 0.0/0
Форма входа
Поиск
Календарь
«  Июнь 2014  »
ПнВтСрЧтПтСбВс
      1
2345678
9101112131415
16171819202122
23242526272829
30
Архив записей
Друзья сайта
  • Официальный блог
  • Сообщество uCoz
  • FAQ по системе
  • Инструкции для uCoz
  • Copyright MyCorp © 2020 Создать бесплатный сайт с uCoz